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Mapa de las ICTS

Mapa de las Infraestructuras Científicas y Técnicas Singulares (ICTS)

ELECMI - Centro Nacional de Microscopía Electrónica (CNME)

En esta ICTS Distribuida se incluyen cuatro infraestructuras: el Centro Nacional de Microscopía Electrónica en Madrid, el Laboratorio de Microscopías Avanzadas en Zaragoza, la División de Microscopía electrónica de la Universidad de Cádiz y La Unidad de Microscopía Electrónica Aplicada a Materiales. En su conjunto, ofrecen métodos y técnicas avanzados en microscopia electrónica de transmisión y barrido para el análisis estructural de materiales, preparación de muestras y tratamiento de imágenes y datos por métodos computacionales, que permiten abordar la caracterización de materiales complejos, tanto inorgánicos como orgánicos con aplicación en biomedicina, catálisis, materiales inteligentes, transporte, energía y comunicaciones.

La gestión del CNME está regulada por la Fundación General de la UCM y por el Vicerrectorado de Investigación y Política Científica de la UCM, que velan por su mantenimiento, proporcionando los medios técnicos y humanos para asegurar su funcionamiento. Se encuentra localizada en la Facultad de Ciencias Químicas de la UCM. El CNME tiene como objetivo desarrollar, implementar y ofertar a la comunidad científica y a la industria, tanto nacional como internacional, los métodos y técnicas más avanzados en microscopia electrónica que permitan la observación, análisis, caracterización y manipulación de materiales, tanto inorgánicos como orgánicos, con resolución atómica. Incluye un amplio rango de equipos de transmisión, barrido, microsondas, microscopía de fuerzas y está equipado con microscopios de última generación dotados de correctores de aberración. Cabe destacar la existencia de dos microscopios provistos de la tecnología más avanzada del momento y que dotan de singularidad al centro: un microscopio ARM 200cFEG corregido en sonda y equipado con técnicas analíticas de última generación y un segundo equipo ARM300cFEG corregido en imagen (resolución 0,05nm). Estos dos instrumentos se complementan con microscopios SEM avanzados, así como un conjunto de equipos SEM/TEM (Transmission Electron Microscopy) que permiten abordar una caracterización completa tanto a nivel estructural como composicional para un estudio previo a la caracterización sub-Angstrom.

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