Esta ICTS distribuida se compone de cuatro infraestructuras:
Centro Nacional de Microscopía Electrónica de Madrid
Incluye un amplio rango de equipos de transmisión, barrido, microsondas, microscopía de fuerzas y está equipado con microscopios de última generación dotados de correctores de aberración. Cabe destacar la existencia de dos microscopios provistos de la tecnología más avanzada del momento y que dotan de singularidad al centro: un microscopio ARM 200cFEG corregido en sonda y equipado con técnicas analíticas de última generación, y un segundo equipo ARM300cFEG corregido en imagen (resolución 0,05nm). Estos dos instrumentos se complementan con microscopios SEM avanzados, así como un conjunto de equipos SEM/TEM (Transmission Electron Microscopy) que permiten abordar una caracterización completa tanto a nivel estructural como composicional para un estudio previo a la caracterización sub-Angstrom.
Laboratorio de Microscopías Avanzadas de Zaragoza
Su objetivo es dotar a las comunidades científica e industrial de los equipamientos más avanzados en microscopías de sonda local y microscopías electrónicas para la observación, caracterización, nanofabricación y manipulación de materiales en la escala atómica y molecular. Además, cuenta con otros laboratorios de crucial importancia para la caracterización, procesado y manipulación en la escala nanométrica, entre los que cabe destacar una sala blanca (fotolitografía), técnicas de doble haz para la preparación de muestras y otros métodos de caracterización basados en espectroscopia fotoelectrónica.
División de Microscopía Electrónica de la Universidad de Cádiz
Ofrece una amplia batería de equipos de microscopía y técnicas de apoyo de última generación entre los que destaca el microscopio de Ultra Alta Resolución FEIS Titan Themis 60-300. Este microscopio es el único en España doblemente corregido, en sonda y objetivo, que permite realizar sobre una misma muestra estudios simultáneos analíticos y estructurales con resoluciones mejores que el Angstrom.
Unidad de Microscopía Electrónica Aplicada de Materiales de la Universidad de Barcelona
Cuenta con equipos de crio-microscopia electrónica para la caracterización de materiales “sensibles” al haz, como en el caso de las muestras biológicas, medidas eléctricas in situ para la caracterización estructural por precesión electrónica y análisis por microsonda para la caracterización de minerales de composición compleja, así como microscopia STEM.
En su conjunto, se ofrecen métodos y técnicas avanzadas en microscopia electrónica de transmisión y barrido para el análisis estructural de materiales, preparación de muestras y tratamiento de imágenes y datos por métodos computacionales, que permiten abordar la caracterización de materiales complejos, tanto inorgánicos como orgánicos con aplicación en biomedicina, catálisis, materiales inteligentes, transporte, energía y comunicaciones.
