Esta ICTS distribuída componse de catro infraestruturas:
Centro Nacional de Microscopía Electrónica de Madrid
Inclúe un amplo rango de equipos de transmisión, varrido, microsondas, microscopía de forzas e está equipado con microscopios de última xeración dotados de correctores de aberración. Cabe destacar a existencia de dous microscopios provistos da tecnoloxía máis avanzada do momento e que dotan de singularidade ao centro: un microscopio ARM 200cFEG corrixido en sonda e equipado con técnicas analíticas de última xeración, e un segundo equipo ARM300cFEG corrixido en imaxe (resolución 0,05nm). Estes dous instrumentos compleméntanse con microscopios SEM avanzados, así como un conxunto de equipos SEM/TEM (Transmission Electron Microscopy) que permiten abordar unha caracterización completa tanto a nivel estrutural como composicional para un estudo previo á caracterización sub-Angstrom.
Laboratorio de Microscopías Avanzadas de Zaragoza
O seu obxectivo é dotar ás comunidades científica e industrial dos equipamentos máis avanzados en microscopías de sonda local e microscopías electrónicas para a observación, caracterización, nanofabricación e manipulación de materiais na escala atómica e molecular. Ademais, conta con outros laboratorios de crucial importancia para a caracterización, procesado e manipulación na escala nanométrica, entre os que cabe destacar unha sala branca (fotolitografía), técnicas de dobre feixe para a preparación de mostras e outros métodos de caracterización baseados en espectroscopia fotoelectrónica.
División de Microscopía Electrónica da Universidade de Cádiz
Ofrece unha ampla batería de equipos de microscopía e técnicas de apoio de última xeración entre os que destaca o microscopio de Ultra Alta Resolución FEIS Titan Themis 60-300. Este microscopio é o único en España dobremente corrixido, en sonda e obxectivo, que permite realizar sobre unha mesma mostra estudos simultáneos analíticos e estruturais con resolucións mellores que o Angstrom.
Unidade de Microscopía Electrónica Aplicada de Materiais da Universidade de Barcelona
Conta con equipos de crío-microscopia electrónica para a caracterización de materiais “sensibles” ao feixe, como no caso das mostras biolóxicas, medidas eléctricas in situ para a caracterización estrutural por precesión electrónica e análise por microsonda para a caracterización de minerais de composición complexa, así como microscopia STEM.
No seu conxunto, ofrécense métodos e técnicas avanzadas en microscopia electrónica de transmisión e varrido para a análise estrutural de materiais, preparación de mostras e tratamento de imaxes e datos por métodos computacionales, que permiten abordar a caracterización de materiais complexos, tanto inorgánicos como orgánicos con aplicación en biomedicina, catálisis, materiais intelixentes, transporte, enerxía e comunicacións.
